Krystallografi: krystallografiske punkter, retninger og plan (Miller indekser). Glidesystemer. Destruktive karakteriseringsteknikker: røntgendiffraksjon (XRD), lysmikroskopi, elektronmikroskopi (SEM, EDS), avanserte mikroskop-teknikker (AFM, FIB, etc.) Ikke-destruktiv testing (NDT): røntgenfluorescens (XRF), visuell, ultralyd, radiografi, penetrant, magnetpulver og virvelstrøm. Bruddmekanikk, utmatting og testmetoder. Skadeanalyser.
Kandidaten: - har grunnleggende kunnskap om krystallografi og kan tegne, indisere og beregne atomtetthet i krystallografiske retninger og plan i en enhetscelle, og forklare glidning av dislokasjoner. - har forståelse for teoretiske prinsipper for røntgendiffraksjon (XRD), lysmikroskopi og elektronmikroskopi (SEM, EDS) og kan gjøre karakterisering og analyse av resultater for utvalgte materialer. - har kunnskap om ikke-destruktiv testing (NDT) og kan utføre og tolke resultater for utvalgte metoder. - har innsikt i mekanismer for brudd og utmatting, har forståelse for ulike testmetoder, og kan analysere data fra utvalgte tester. - har oversikt over metoder for materialtesting og karakterisering, kan identifisere anvendelser, sammenligne muligheter og begrensninger, og gjøre begrunnede valg av metoder. - kan anvende kunnskap om bruddmekanikk, materialtesting og karakterisering til å planlegge og gjennomføre en skadeanalyse. - kan planlegge, gjennomføre og dokumentere laboratoriearbeid innen materialtesting og karakterisering i skriftlige rapporter.